測(cè)量中的有關(guān)注意事項(xiàng)

 任何測(cè)量過(guò)程，都有它們各自的客觀需要，并且有一定的精確度要求。應(yīng)該看到，提高和保證測(cè)量的精確度，往往并不單純?nèi)�決于選擇高精確度測(cè)量?jī)x表，而是和測(cè)量方案、方法、場(chǎng)合、接線方式有關(guān)，是一個(gè)綜合性問(wèn)題。

 1.被測(cè)量 電路在測(cè)量時(shí)引入內(nèi)阻損耗

 如果一個(gè)具有高內(nèi)阻的被測(cè)電路，若采用低內(nèi)阻的電壓表測(cè)量其兩端的電壓，電表的示值和其實(shí)際的電壓值相比要偏低。即使不計(jì)入電壓表本身的誤差，測(cè)量結(jié)果的絕對(duì)誤差及相對(duì)誤差也會(huì)增加很多。

 2.被測(cè)諧振電路在測(cè)量是引入失諧

 如果一個(gè)具有諧振回路的被測(cè)電路，當(dāng)測(cè)量諧振回路兩端的電壓時(shí)凹凸琀聽(tīng)輸入電阻和輸入電容并在其諧振回路兩端，從而引起的讀數(shù)誤差，有時(shí)也是十分嚴(yán)重的。其中輸入電阻的引入將降低諧振回路的等效品質(zhì)因素Q值，導(dǎo)致示值偏低。輸入電容的引入將使諧振曲線偏移，從而造成失諧性的誤差。

 3.因測(cè)量引起被測(cè)電路反饋參數(shù)變化而造成的測(cè)量 

 例如用毫安表串入晶體管發(fā)射極回路中測(cè)量射極電流。由于毫安表內(nèi)阻的引入而改變了該晶體管射電流負(fù)反饋的參數(shù)，導(dǎo)致顯著的測(cè)量誤差。

 同理，在測(cè)量中，由于測(cè)量食品的輸入阻抗，引線的分布參數(shù)等因素改變了被測(cè)電路的反饋參數(shù)時(shí)，也將造成測(cè)量誤差，惡行時(shí)會(huì)引起被測(cè)電路的自激或振蕩電路的停振。

 由于測(cè)量電路的接法不妥，或者由于接入測(cè)量?jī)x表后，吸取了被測(cè)電路的能量，改變了被測(cè)電路的參數(shù)，從而使被測(cè)電路偏離了正常的工作狀態(tài)，造成了明顯的測(cè)量誤差。

 因此，在一切測(cè)量過(guò)程中，應(yīng)盡量保持被測(cè)的正常工作狀態(tài)，使測(cè)得的數(shù)值具有足夠的真實(shí)性。原則 上應(yīng)盡量減少向被測(cè)電路吸取能量，盡量減少因測(cè)量而引起被測(cè)電路的參數(shù)變化。

 應(yīng)該注意：不能用普通的電壓表去測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)電池，以免標(biāo)準(zhǔn)電池過(guò)荷損壞；不能用萬(wàn)用表測(cè)量檢流計(jì)或微安表頭的內(nèi)阻，以免表頭指針沖擊損壞或線圈損壞；不能用萬(wàn)用表去測(cè)量酒石酸鉀鈉壓電晶體的內(nèi)阻，以免壓電的逆效應(yīng)將晶體振裂等。